可检测各种缺陷如半导体晶片芯片和液晶基板的划痕，不均匀抛光，雾度，表面灰尘，滑移等可照明样品表面范围为400,000Lux以上 是一种用于宏观观察的照明装置 高亮度卤素射镜 YP-250ID YAMADA山田光学高亮度电子镜200V

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